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ASTM B 193-2000 导电材料电阻率的标准试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-18 14:32:31  浏览:9410   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:StandardTestMethodforResistivityofElectricalConductorMaterials
【原文标准名称】:导电材料电阻率的标准试验方法
【标准号】:ASTMB193-2000
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2000
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:导电体;材料;试验
【英文主题词】:testing;materials;electricconductors
【摘要】:
【中国标准分类号】:K04
【国际标准分类号】:29_050
【页数】:5P;A4
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:INFORMATIONPROCESSING.MAGNETICDISKFORDATASTORAGEDEVICES.83000FLUXTRANSITIONSPERTRACK,130MM(5,12IN)OUTERDIAMETER40MM(1,57IN)INNERDIAMETER.
【原文标准名称】:信息处理.数据贮存单位磁盘.83,300磁道翻转.磁道外直径130mm(5.12in),内直径40mm(1.57in)
【标准号】:NFZ64-642-1986
【标准状态】:作废
【国别】:法国
【发布日期】:1986-04
【实施或试行日期】:1986-03-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:磁粉探伤;材料的物理性质;磁测量;数据存储装置;数据媒体;磁盘;信息交换;数据处理;机械性能;磁性能;磁性试验;材料的磁性能;信息交流;材料的机械性能;规范;试验;尺寸;物理性能
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L64
【国际标准分类号】:
【页数】:17P;A4
【正文语种】:其他


【英文标准名称】:StandardGuideforMeasuringDiameterofSiliconandOtherSemiconductorWafers
【原文标准名称】:测定硅和其他半导体薄片直径的标准指南
【标准号】:ASTMF2074-2000
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:2000
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.06
【标准类型】:(Guide)
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:silicon;diameter;semiconductingmaterials;siliconwafers
【摘要】:ThisstandardwastransferredtoSEMI(www.semi.org)May20031.1Thisguidedefinesstandardizedpositionsformeasuringdiameterofcircularwafersofsiliconandothersemiconductingmaterialsthatcontainflatsornotchesontheperiphery.It
【中国标准分类号】:H80
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:3P.;A4
【正文语种】:



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